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製品案内

インピーダンス・Sパラ測定SMD高周波デバイス用テストフィクスチャ

インピーダンス・Sパラ測定SMD高周波デバイス測定用治具

・アルモテックの試験治具は、お客様の製品(被測定物)に合わせ、専用設計で製作します。開示頂きました仕様・規格にて対応させて頂きます。

・オプションとして、お客様の製品(被測定物)に合わせた専用のCALキットを、設計・製作致しますので、試験治具コンタクト部を含めキャリブレーションできます。結果、デバイスそのもののデータを確認する事が出来ます。

 

(1)Sパラメータ測定用治具

A.スライドテーブル式

 

B. トグルクランプ式

(2)インピーダンス測定用治具

インピーダンス測定用

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◆特徴
(1)高精度な測定再現性
(2)スライドするので デバイスの装着が簡単
(3)電源供給端子などの取付可

(4)多品種の測定台取付・交換可能

◆特徴
(1)高精度な測定再現性
(2)電源供給端子などの取付可

(3)多品種の測定台取付・交換可能

◆特徴
(1)アジレント社測定器に直付けする 構造
(2)多品種の測定台交換可能

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高周波デバイス測定

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デバイスの評価ツールは持っているが、測定環境及び測定設備が無いといったお客様に、

アルモテックでは、お客様のニーズに対応し、評価・測定のみを行なうこともさせていただいております。

※ただし評価ツールは貸出しをお願いします。

また、高周波領域でのデバイスの代表特性を見る為の評価基板も設計・製作可能です。

一度お問合せを下さい。

自動検査機器

手動検査用として製作した治具(測定部のみ)を、お客様の設備(オートハンドラー)に

装着出来るような形状にて対応する事も可能です。

 

また、弊社にてオートハンドラー本体のご提供をさせて頂く事も可能です。

※CCGカメラ、テーピング機などハンドラーの構成は要相談とさせて頂きます。