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製品案内

インピーダンス・Sパラ測定SMD高周波デバイス測定用治具

・アルモテックの試験治具は、お客様の製品(被測定物)に合わせ、専用設計で製作します。開示頂きました仕様・規格にて対応させて頂きます。

・オプションとして、お客様の製品(被測定物)に合わせた専用のCALキットを、設計・製作致しますので、試験治具コンタクト部を含めキャリブレーションできます。結果、デバイスそのもののデータを確認する事が出来ます。

 

(1)Sパラメータ測定用治具

A.スライドテーブル式

 

B. トグルクランプ式

(2)インピーダンス測定用治具

インピーダンス測定用

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◆特徴
(1)高精度な測定再現性
(2)スライドするので デバイスの装着が簡単
(3)電源供給端子などの取付可

(4)多品種の測定台取付・交換可能

◆特徴
(1)高精度な測定再現性
(2)電源供給端子などの取付可

(3)多品種の測定台取付・交換可能

◆特徴
(1)アジレント社測定器に直付けする 構造
(2)多品種の測定台交換可能

CALキット写真

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他にも特殊なデバイス用の治具を製作しております。

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Sパラメータ測定用治具 

代表仕様(参考)

使用周波数: DC〜18GHz
デバイスサイズ: 

1005 サイズ(2 端子用)
2010 サイズ(10 端子用)など

※表面実装用PKGだけではなく、リードタイプのPKGについても取扱いしております。

インピーダンス: 50Ω
治具ISOLATION: -55dB 以上@6GHz
(コンタクト端子間:2mm の時)
S21 再現性: ±0.05dB@3GHz以下(3dB 帯域)
±0.1dB@6GHz以下(3dB 帯域)
注…スルーチップを使用し、10 回程度繰り返し測定した時のデータ
校正: デバイスとの接触面を基準とした校正、スルーチップのみの簡易校正
校正方式: SOLT方式  TRL方式